面料扫描仪-全局外观采样TAC7全局外观采样(TAC)是一套无缝的生态系统,这套系统包含精密的仪器设备和直观的应用软件。通过这套系统您可以高度自动化制作虚拟材质及渲染流程,各种复杂的材质TAC都能轻松应对,扫描生成的数字材质可以直接应用于不同的照明环境,无需再次调整。方便的操作和精准的结果将虚拟化材质提升至全新的高度。
美国X-rite Ci4200/Ci4200UV分光光度仪,准确可靠,可帮助客户建立颜色控制方案,也适用于目前仍依赖目测或采用其他非光谱测量设备的客户改善其产品质量检验的方案。
美国X-rite VS3200非接触式成像分光光度仪 无论是测量塑料部件、液体、粉末还是凝胶,此款多功能非接触式成像分光光度仪都能加速颜色配置、生产中颜色检查和质量控制等操作,减少浪费和返工,缩短生产周期。
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